GR系列电路板故障检测仪仪简介与对比2008/09/19

⑴[在线测试]
用测试夹卡住被测数字IC，GR系列测试仪依照被测IC在电路板上的实际自身连接关系自动生成并施加测试代码，再取回其实际响应。将实际响应和理论值进行对比，即可发现功能失效的故障器件。直观显示IC自身连接和功能好坏等测试信息以及每一输出管脚对应的测试代码、实际响应和理论代码，便于迅速缩小电路板故障范围。

⑵[测试范围]

TTL74/54、CMOS40/45、存储器、全系列驱动器、29000、8000/80000、9000/90000、3400/34000、HD2500、AMD2500、西门子库、俄罗斯、淘汰器件替代库等十个系列数字IC。

⑶[离线测试]

借助离线测试盒对离线状态下数字IC进行功能测试，没有在线因素的影响。

⑷[型号识别]

在线、离线识别标识不清或被人为擦掉标识的数字IC的功能型号及替代品。

⑸[测试电源]

独立程控施加组测试+5V电源，采用同步光电控制方式，对电源和地管脚短路、电网瞬间掉电等情况可准确监测并自动保护。

⑹[辅助功能]

①动态总线隔离：多个三态IC的输出并联在一起即构成总线结构。为避免因总线竞争对所测IC的影响，可在其它IC的使能端施加高或低动态同步禁止信号，屏蔽干扰。

②施加上拉电阻：自动辨别未接上拉电阻或等效上拉电阻的集电极开路数字IC，并自动模拟1KΩ的上拉电阻对其完成测试。

③其它辅助功能：如“测试夹自动定位”以及“测试夹接触检查”等。

 2、双板数字IC在线功能测试（GR8080以上仪器具备此功能）

⑴[测试过程]

在同一瞬间、同一状态下，用测试夹1和测试夹2对两块电路板上位置相同的数字IC进行在线功能测试，不设理论代码，直接对比两个实际响应，增加了对隐含故障的检出率。

⑵[应用方法]

用于：

①好、坏电路板同时测试，不用事先学习，快速直接对比；

②多块坏电路板同时测试，快速对照，多数判决；

③对一块电路板上具有对称布局排列的数字IC同时快速功能测试。

实践表明：这种测试方式极大地提高了测试效率。

⑶[测试要求]

数字通道应不少于80路，测控技术先进，才能完成双板数字IC在线功能测试。

 3、集成电路测试仪数字IC在线状态测试

事先学习好电路板上数字IC的状态信息，如：①管脚逻辑状态（电源、地、信号状态、小电阻接地或电源等）；②管脚之间的连接关系；③输入、输出实际响应等。再比较故障电路板上同样位置的器件，从而发现功能、管脚状态与好板不一致的器件。

测试过程中必须阻断电路板上的干扰源，如拆下晶振、CPU等器件，适用于批量维修或有好电路板可供学习的情况。

 4、VI曲线分析测试

在线路结点之间注入一定幅度和频率的周期信号，在显示坐标上形成一条电流随电压变化的关系曲线，即：VI曲线。VI曲线的形状由被测结点之间的特性阻抗所决定，通过比较好、坏电路板（器件）上相同结点之间的VI曲线，可发现特性阻抗发生改变的结点，其通常为器件故障所引发。

VI曲线分析测试几乎适用于任何类型的器件。可采用各种规格的测试夹多点测试或VI探棒单点测试，不受器件封装形式的限制，应用范围极广。相对于传统工具，VI曲线分析测试在测试效率、精确度和信息量等方面都有巨大的优势。

在线测试时，通常需要好、坏电路板对比测试，故障定位在线路结点上。然后应以故障结点为中心，排查同该结点有关联的器件；离线测试时，通常需要好、坏器件对比测试，故障直接定位在器件管脚上。有时也可运用VI曲线对单块电路板或单个器件进行测试，在线时，直接对比电路板上对称布局排列的器件；离线时，根据经验观察并总结器件管脚之间VI曲线形状的规律性。

⑴[测试方法]

选定测试参考点，提取测试点相对于该参考点的VI曲线。可采用测试夹同时测试或探棒逐点测试。例如，对20管脚的IC可用测试夹提取20条VI曲线，也可采用VI探棒逐点测试任意封装的元器件。

⑵[双棒巡检]

动态显示探棒提取的VI曲线，时时自动刷新。可直接显示任意结点之间的VI曲线或者直接比较两板上相同结点之间的VI曲线，支持单/双周期VI曲线设置。

⑶[双夹测试] （GR8080以上仪器具备此功能）

用测试夹直接比较两块电路板上同样位置IC的VI曲线，测试效率大为提高。

⑷[结点类型设置]

选择被测器件“结点类型”后，自动最佳匹配测试频率等参数，使测试更加有的放矢并更加简便，明显提高测试范围和测试准确性。