AT256全品种集成电路测试仪
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详细信息

       最大测试管脚数:256
集成电路测试仪测试适用范围：

元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试
电路板测试-适用各种电路板的检测（附加测试电缆线和各种封装的测试夹）

测试原理（v-i曲线测试）：

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。
被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试仪操作如此简单:

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
2.将集成电路插入测试座.
3.执行测试
4.得到PASS或FAIL的测试结果.

不需要电子专业知识.
适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板
灵活、好安装、宜操作.
测试结果直接: PASS或FAIL.
软件可设定各种测试条件.
可提供完整的元件测试分析报告.

适合不同封装形式的元件:

-双列插脚(DIL)
-小型封装集成集成电路(SOIC)
-小型封装(SSOP, TSOP)
-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
-球门阵列封装(BGA)
注意: SENTRY不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。

集成电路测试仪测试通道

标准提供多达128个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。
升级模块：64通道
可扩充到192/256个测试通道。

用两种模式扫瞄:

?一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。
?矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。

数据库

用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。

结果比较型式:

将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:

?与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较
? 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。

软件- 灵活性

1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库,
2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件

报告

1）软件可产生一详细的测量报告, 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。
2）用户可处理集成电路的各种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出, 以与新的扫瞄阻抗图作比较。
3）为了今后使用方便, 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。

转接器

1）标准型:

用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封装; 也有提供SENTRY校正工具组。

通用型:

用于SOIC及PLCC封装; 一个转接器即适用于各种芯片尺寸, 测试有20、28、32、44、52、68、84脚的集成电路。

客制型:

可订制各种封装的转接器, 包括: BGA、QFP; 请进一步洽询, 以设计符合您需求的转接器。

技术规格

英国ABI-AT256集成电路测试仪适配座部分选配清单